快盈VIII平台-伟特将于SEMICON CHINA 2024揭晓新颖的智能视觉检测方案
宣布于：2025-11-16 11:59:09

伟特科技，致力在成为全世界最值患上相信的科技公司，将在2024年3月20日至22日加入中国最年夜规模半导体年度嘉会 –Semicon China 2024, 展位位在上海新国际博览中央（SNIEC）N3展馆，展位号：#3775。

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届时，伟特将展示其最新的中后端半导体视觉检测方案，包罗晶片检测与分类机- PX730i, 编带后视觉检测机 - VR20i G2, 以和半导体IC视觉检测机 - TH3000i，以满意不停生长各行业的需求。此外，伟绝技术专家将于展会时期举行现场产物演示，并提供具体的技术解说。

伟特晶片检测与分类机PX730i是专为晶片分拣、六面检测与卷带封装而设计。PX730i立异的设计取代了传统的人工目视检测，并将在Semicon China 2024初次亮相。依附其高速晶圆外不雅检测体系以和高正确性视觉检测体系，确保总体检快盈VIII平台-测历程到达最好的效率与正确性。

接下来，伟特的半导体IC视觉检测机TH3000i 是一款联合了种种立异的视检技术能力，以满意种种IC封装视检需求的解决方案。TH3000i具备处置处罚多种高端视觉检测的功效，包罗三维、二维及五侧的视检需求，同时亦可为既定的运用法式附有托盘交流功效。该解决方案专为高混淆低容量、低混淆高容量或者混淆模式的生产操作情况而设计。其进步前辈视觉检测技术可用在检测 WETQFN、SiP、盖间隙、模具裂纹、内裂纹以和侧露铜等。

伟特的编带后视觉检测机 VR20i G2的卷带至卷带设计适用在检测8毫米至32毫米载带宽度的卷带。其进步前辈的视觉检测功效及主动化机制使其能轻松切换轨道及卷轴盘的宽度，确保高精度的处置处罚。此外，VR20i G2 接纳多站式视觉体系及进步前辈的视检技术，为客户提供广泛的检测服务，并提供周全且高质量的检测结果。VR20i G2的高速检测不仅确保最年夜效率，削减酬金过错，缩短投资回报期 (ROI)，为客户提供最理想的视觉检测方案。

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